Data Mining and Diagnosing IC Fails

799,00 RON
+ 23,99 RON Livrare
  • product image

Data Mining and Diagnosing IC Fails

  • Marcă: Unbranded
Vândut de:

Data Mining and Diagnosing IC Fails

  • Marcă: Unbranded

799,00 RON

În stoc
+ 23,99 RON Livrare

Politica de retur pe 14 zile

Vândut de:

799,00 RON

În stoc
+ 23,99 RON Livrare

Politica de retur pe 14 zile

Metode de plată:

Descriere

Data Mining and Diagnosing IC Fails

Introduction. - Statistics. - Yield Statistics. - Area Dependence of the Yield. - Statistics of Embedded Object Fails. - Fail Commonalities. - Spatial Patterns. - Test Coverage and Test Fallout. - Logic Diagnosis. - Slat Based Diagnosis. - Data Collection Requirements. - Appendix A. Distribution of IC Fails. - Appendix B. General Yield Model. - Appendix C. Simplified Center-Satellite Model. - Appendix D. Quadrat Analysis. - Appendix E. Cell Fail Probabilities. - Appendix F. Characterization Group. - Appendix G. Component Fail Probabilities. - Appendix H. Yield and Coverage. - Appendix I. Estimating First Fail Probabilities from the Fallout. - Appendix J. Identity of M and S. - References. - Index. . Language: English
  • Marcă: Unbranded
  • Categorie: Educație
  • Artist: Leendert M. Huisman
  • Limbă: English
  • Număr de pagini: 250
  • Format: Paperback
  • Data publicării: 2010/12/08
  • Editor / Etichetă: Springer
  • ID Fruugo: 337842478-741501092
  • ISBN: 9781441937674

Livrări şi Returnări

Expediat în 4 zile

  • STANDARD: 23,99 RON - Livrare între vin. 06 februarie 2026–mie. 11 februarie 2026

Livrare de la Regatul Unit.

Facem tot ce ne stă în putinţă să ne asigurăm că produsele comandate de dumneavoastră vă sunt livrate în întregime şi conform specificaţiilor. Cu toate acestea, dacă primiţi o comandă incompletă sau articole diferite de cele comandate, sau aveţi alt motiv pentru care nu sunteţi mulţumit de comandă, puteţi returna comanda sau orice produse incluse în comandă şi primiţi o rambursare completă pentru articole. Vizualizaţi întreaga politică de returnare