Această referință practică oferă o acoperire de ultimă generație a metrologiei petelor și a valorii acesteia ca tehnică de măsurare în industrie. ; Examinarea fiecărui aspect important al domeniului Metrologia petelor: studiază originea deplasării și decorrelației petelor; prezintă proceduri pentru analiza deformării și măsurarea formei obiectelor brute; explică velocimetria imaginii particulelor (PIV), procesarea înregistrărilor PIV și cerințele de proiectare ale echipamentelor PIV; discută aplicațiile metodelor de particule cu lumină albă și producerea de pete artificiale; descrie măsurarea rugozității suprafeței cu pete laser și pete policromatice; ilustrează metode semiautomate și automate pentru analiza marginilor lui Young; calculează variația franjurilor lui Young cu modificarea microreliefului suprafeței aspre; și explică hololentilele pentru imagistică și oferă detalii de proiectare cu corecții de aberație pentru sistemele hololense. ; Cu peste 1500 de citate din literatură, tabele, figuri și ecuații de afișare, Speckle Metrology este o resursă pentru studenți și profesioniști în domeniile ingineriei optice, mecanice, electrice și electronice; fizică aplicată; și analiza stresului. Limba: engleză